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當(dāng)前位置:上海皆準(zhǔn)儀器設(shè)備有限公司>產(chǎn)品中心>測(cè)厚儀 > 狄夫斯高測(cè)厚儀 > 美國(guó)Defelsko UTG M3 超聲波壁厚測(cè)量?jī)x
Defelsko Positector UTG M3超聲波壁厚測(cè)量?jī)x是在UTG M系列的高級(jí)型號(hào),相比UTG M1增加了更多的功能,可實(shí)現(xiàn)10w的數(shù)據(jù)存儲(chǔ),不僅可通過(guò)無(wú)線技術(shù)傳輸數(shù)據(jù),還能實(shí)時(shí)顯示圖形,便于數(shù)據(jù)分析。UTG M3超聲波壁厚測(cè)量?jī)x的探頭是5MHz接觸式多回波探頭,具有油漆涂層穿透功能,無(wú)需去除涂層即可測(cè)量材料壁厚。UTG M3的厚度量程范圍為2.5~125mm。
1)高對(duì)比度彩色液晶顯示屏
2)A掃描,帶可調(diào)節(jié)的Gain和屏幕截圖功能,可做進(jìn)一步的分析和記錄
3)B掃描,顯示測(cè)試材料的截面輪廓
4)可存儲(chǔ)100000個(gè)測(cè)量讀數(shù),達(dá)1000個(gè)批次
5)存儲(chǔ)厚度、輪廓和環(huán)境測(cè)量在單個(gè)批次
6)屏幕批量注釋,添加注釋、變批量名稱和更多與新內(nèi)置的QWERTY鍵盤
7)WiFi技術(shù)-無(wú)線同步到PosiTector.net,下載軟件更新,并連接到移動(dòng)設(shè)備,實(shí)現(xiàn)更多擴(kuò)展功能
UTG M探頭具有透漆能力,可以快速準(zhǔn)確地測(cè)量表面有油漆涂層的金屬材料厚度,不需要去除涂層。同樣非常適用于測(cè)量噴砂材料或其他要求一個(gè)持久耐磨接觸面的涂層應(yīng)用。
1)5MHz接觸式探頭,帶有耐磨氧化鋁探針
2)多回波技術(shù)達(dá)到平均3或以上的回波確保準(zhǔn)確可靠的讀數(shù)
3)這是*準(zhǔn)確的測(cè)量方法測(cè)量油漆結(jié)構(gòu)壁厚,因?yàn)樗詣?dòng)忽略涂層、降低檢測(cè)時(shí)間和成本
4)不同回波模式自由切換
-多回波模式可以消除涂層厚度
-單回波模式可以檢測(cè)凹坑和缺陷,并增加測(cè)量范圍
PosiTector UTG | 腐蝕 | 多回波 | ||
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型號(hào) | UTG C1 | UTG C3 | UTG M1 | UTG M3 |
| 標(biāo)準(zhǔn) | 高級(jí) | 標(biāo)準(zhǔn) | 高級(jí) |
探頭 | UTG C | UTG M | ||
探頭類型 | 5MHz雙元件 | 5MHz接觸 | ||
透油漆能力(多回波) | 無(wú) | 有 | ||
測(cè)量范圍-單回波 | 1.00~125.00mm | 2.50~125.00mm | ||
測(cè)量范圍-多回波 | 無(wú) | 2.50~60.00mm | ||
分辨率 | 0.01mm | 0.01mm | ||
精度 | ±0.03mm | ±0.03mm | ||
尺寸 | 146 x 61 x 28mm | |||
重量 | 140g(不包括電池) | |||
符合標(biāo)準(zhǔn) | ASTM E797 |
型號(hào) | UTG M3 |
類型 | 高級(jí) |
探頭 | UTG M(多回波) |
探頭類型 | 5MHz接觸 |
透油漆能力(多回波) | 有 |
操作溫度范圍-單回波 | 2.50~125.00mm |
操作溫度范圍-多回波 | 2.50~60.00mm |
操作溫度-主機(jī) | 0~50℃ |
操作溫度-探頭 | -20°C ~ 55° C |
材料表面溫度 | -40°C ~ 150° C |
分辨率 | 0.01mm |
精度 | ±0.03mm |
尺寸 | 146 x 61 x 28mm |
重量 | 140g(不包括電池) |
符合標(biāo)準(zhǔn) | ASTM E797 |
名稱 | 型號(hào) | 說(shuō)明書 | 畫冊(cè) | 操作說(shuō)明書 | 清單 |
超聲波測(cè)厚儀 | Advanced UTGM3-E |
| 主機(jī)x1、探頭x1、探頭保護(hù)套x1,鏡頭保護(hù)罩x1,腕帶x1,耦合劑x1、帶腰夾的橡膠保護(hù)套x1、7號(hào)電池x3、尼龍便攜軟包x1、英文說(shuō)明書x1、證書x1 【注意】因廠家包裝可能更新或升級(jí),詳細(xì)包裝清單以廠家*新標(biāo)配為準(zhǔn)。 |
更新時(shí)間:2024/9/12 10:07:08
標(biāo)簽:超聲波測(cè)厚儀 美國(guó) Defelsko測(cè)厚儀 涂層測(cè)厚儀